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粒度測(cè)試精度分析

更新時(shí)間:2025-06-18  |  點(diǎn)擊率:139
  粒度測(cè)試的精度受方法原理、儀器性能、樣品特性及操作規(guī)范等多重因素影響。以下從精度來源、影響因素、提升方法及典型方法精度對(duì)比四個(gè)方面系統(tǒng)闡述:
 
  粒度測(cè)試精度的核心來源:
 
  方法原理的局限性
 
  激光衍射法:基于米氏散射理論,假設(shè)顆粒為球形且均勻分散。對(duì)于非球形顆粒(如纖維、片狀顆粒)或?qū)挿植紭悠?,理論模型與實(shí)際存在偏差,導(dǎo)致精度下降。
 
  動(dòng)態(tài)光散射法(DLS):依賴顆粒布朗運(yùn)動(dòng),對(duì)大顆粒(>1μm)或高濃度樣品易出現(xiàn)多重散射,影響結(jié)果準(zhǔn)確性。
 
  圖像分析法:依賴顆粒圖像清晰度及算法識(shí)別能力,對(duì)重疊顆粒或透明顆粒的識(shí)別精度有限。
 
  儀器性能的差異
 
  分辨率:儀器(如Malvern Mastersizer 3000)的光學(xué)系統(tǒng)分辨率更高,可區(qū)分更接近的粒徑;低端儀器可能將相近粒徑合并統(tǒng)計(jì)。
 
  重復(fù)性:精密儀器(如RSD<1%)的重復(fù)性優(yōu)于普通儀器(RSD>3%),尤其對(duì)微小粒徑變化更敏感。
 
  檢測(cè)范圍:部分儀器(如電阻法)對(duì)特定粒徑范圍(如0.4-1200μm)精度更高,超出范圍時(shí)誤差增大。
 
  樣品特性的干擾
 
  團(tuán)聚:顆粒團(tuán)聚會(huì)導(dǎo)致測(cè)量值偏大,分散性差的樣品精度顯著降低。
 
  密度與形狀:高密度顆粒沉降快,可能被誤判為大粒徑;非球形顆粒的等效球徑計(jì)算存在誤差。
 
  折射率匹配:激光衍射法需輸入顆粒與分散介質(zhì)的折射率,若參數(shù)不匹配,結(jié)果偏差可達(dá)10%-30%。
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